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發(fā)明人檢查失效的原因，發(fā)現(xiàn)讀點失效為讀“0”失效，并且進一步研究發(fā)現(xiàn)閃存參考單元的輸出電流iref在48小時的測試值iref1與在初始的測試值iref0之間有偏移，具體偏移量經(jīng)測試統(tǒng)計在4μa以內(nèi)，而且iref1＜iref0，即48小時后iref往電流變小的方向偏移。閃存測試中，若iref＞i，則讀出“0”(即閃存讀“0”操作時，iref＞i)。閃存判斷讀“0”的具體操作過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進行比對判斷。當差值變?nèi)醯接勺x出放大器無法進行識別時，讀“0”失效。當htol可靠性驗證經(jīng)過***時間點例如48小時后，由于閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移即iref變小，如此一來，閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值變小，超出讀出放大器識別范圍，于是讀“0”失效。測試發(fā)現(xiàn)經(jīng)48小時閃存參考單元的輸出電流iref往電流變小的方向偏移后，進一步做htol測試，閃存參考單元的輸出電流iref在第三時間點例如168小時,第四時間點例如500小時,第五時間點例如1000小時測試均不會進一步偏移。寶山區(qū)HTOL測試機供應(yīng)商上海頂策科技有限公司自成立以來，已經(jīng)為超過500家半導體公司提供高質(zhì)、高效、低成本測試解決方案。

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????4.失效判據(jù)標準失效判據(jù)備注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采購文件要求，則認為失效。：1.四種標準的失效判據(jù)都根據(jù)相應(yīng)的標準執(zhí)行。————————————————版權(quán)聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章，遵循，轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。4.失效判據(jù)標準失效判據(jù)備注JESD22-A108F-2017如果器件不符合采購文件要求，則認為失效。：1.四種標準的失效判據(jù)都根據(jù)相應(yīng)的標準執(zhí)行。————————————————版權(quán)聲明：本文為CSDN博主「月丶匈」的原創(chuàng)文章，遵循，轉(zhuǎn)載請附上原文出處鏈接及本聲明。原文鏈接：。 上海頂策科技有限公司可靠性測試服務(wù)，涵蓋柔性方案開發(fā)，出具可靠性報告等一條龍服務(wù)。

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TH801智能老化系統(tǒng)，實時監(jiān)測并記錄每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)。青浦區(qū)HTOL測試機大概費用

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